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当前位置：首页 >产品中心>三菱化学分析仪器>电阻率小型自动测绘系统>MCP-S330日东精工原三菱化学电阻率小型自动测绘系统
详细介绍
| 品牌 | Nittoseiko Analytech/日东精工 | 产地类别 | 进口 |
|---|---|---|---|
| 类型 | 数字式电阻测试仪 | 应用领域 | 能源,电子/电池,钢铁/金属,汽车及零部件,电气 |
日东精工原三菱化学电阻率小型自动测绘系统MCP-S330专为低电阻率材料与导电薄膜的精密检测而设计，可实现表面电阻率（Ω/□）与体积电阻率（Ω·cm）的高稳定测量，且不受试样形状限制。系统支持300mm×300mm样品的二维电阻率映射分析，并可进行多片样品连续测量，大幅提升检测效率。通过与Loresta GX联机使用，测量范围覆盖10⁻⁴～10⁷Ω，适用于ITO透明导电膜、金属薄膜、导电聚合物及显示器电极基板的膜厚与成分均匀性评估。设备实现测定、数据运算、自动处理及三维图形输出全过程自动化，结果直观清晰，助力研发优化与生产质量管控。
日东精工原三菱化学电阻率小型自动测绘系统MCP-S330，用于低电阻率材料的表面电阻率与体积电阻率精密测定。支持300mm角样品映射及多片连续测量，搭配Loresta GX可覆盖10⁻⁴～10⁷Ω范围。测量、运算、数据处理及三维图形输出全自动完成，适用于ITO薄膜、导电膜及显示基板均匀性评估。
中能创美（北京）科技有限公司作为日东精工分析科技的合法认证一级代理商，全面负责电阻率小型自动测绘系统 MCP-S330在中国区域的销售、培训及技术支持。该产品采用4端子4探针法，精准测量表面/体积电阻率（Ω/□，Ω·cm），支持300mm见方样品自动扫描与3D图形输出，适用于导电薄膜、金属、ITO玻璃等材料的均匀性评估。为确保产品质量与售后服务，请通过中能创美合法渠道进行咨询。
一、主要特点
可精密测定样品的表面抵抗率 [Ω／□] 与体积抵抗率 [Ω·cm]，且不受样品形状影响。
对导电性薄膜（如导电薄膜、金属膜、ITO薄膜等）的膜厚与成分不均一性，映射结果一目了然，便于定位与分析。
支持300 mm × 300 mm以内样品的二维映射，也可进行多片样品的连续测量，提高检测产能。
可连接专用测量仪器（ロレスタGX），配合使用时测量范围覆盖 10⁻⁴ 到 10⁷ Ω（量程广，适应不同电阻率层）。
测定、计算、数据处理到三维图形输出全部自动化，输出结果便于报告与后续分析。
二、应用场景
显示器基板（液晶、OLED 等）电极的一致性评估与良率管控。
导电聚合物、透明导电膜（ITO）、片材、涂层、金属化薄膜的研发与工厂检验。
需要快速、可视化定位膜厚或成分局部偏差的质量控制流程。
三、使用优势（MCP-S330卖点）
自动化测量流程减少人为误差，数据再现性高。
映射图与三维视图使薄膜厚度与导电性分布问题直观可见，便于快速判定问题来源。
小型化系统节省实验台空间，同时支持大尺寸样品（至300 mm角）与批量检测。
| 项目 | 规格 |
|---|---|
| 有效测量范围 | X轴：300mm / Y轴：300mm |
| 样品厚度 | 0～40mm |
| 探针上下移动范围 | 约50mm |
| 定位分辨率 | X、Y轴：0.1mm |
| 重复定位精度 | X、Y轴：±0.08mm / Z轴：±0.1mm |
| 专用测绘探针 | 直列4探针，针间距可选 1.0mm、1.5mm、5.0mm |
| 样品台 | 白色PVC板或玻璃板，附带X、Y轴50mm刻度标尺 |
| 样品放置方式 | 手动放置（不支持自动传送） |
| 接口 | USB |
| 电源 | AC100V～240V（50/60Hz），63VA |
| 外形尺寸 / 重量 | 约 543W × 492D × 410H（mm），约 22kg |
五、总结
日东精工原三菱化学MCP-S330电阻率小型自动测绘系统专为导电薄膜、金属、ITO玻璃等材料的电阻率分布测绘设计。采用4端子4探针法，精准测量表面电阻率（Ω/□）与体积电阻率（Ω·cm），不受样品形状影响。支持300mm见方样品自动扫描，从测量、数据处理到3D图形输出全自动化。连接Loresta GX电阻率计，可覆盖10⁻⁴至10⁺⁷Ω宽量程，直观呈现膜厚与组成均匀性，广泛应用于研发、品控与生产现场。
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